Tình trạng đáng báo động về việc gian lận bằng cấp, thi cử của người Trung Quốc đang đánh lên hồi chuông cảnh báo cho chất lượng giáo dục nước Mỹ.
Một thành viên trong Tòa Thượng thẩm cáo buộc những kẻ chủ mưu sử dụng hộ chiếu Trung Quốc giả để lừa giám thị và vào thi với tư cách thí sinh nhằm kiếm điểm cao cho các thí sinh thật.
Từ năm 2011 tới 2015, hầu hết tây phần bang Pennsylvania, thí sinh thi SAT (bài kiểm tra dùng để thi đầu vào đại học tại Mỹ), TOEFL (chứng chỉ tiếng Anh cho người nước ngoài), và bằng GRE (chứng chỉ xét tuyển Thạc sĩ tại Mỹ) đều sử dụng tên giả, theo cáo trạng của Sở Tư pháp.Công tố viên của quận Tây Pennsylvania David Hickton khẳng định các thí sinh thuê người thi hộ sẽ bị kết án phạm tội lừa đảo trong việc nộp đơn nhập học tại các Đại học Mỹ.
Ông David cũng cho biết các học sinh này cũng đã gian lận trong việc xin visa du học qua việc sử dụng hộ chiếu Trung Quốc giả."Các học sinh này không chỉ lừa đảo để vào Đại học mà còn lừa đảo cả hệ thống nhập cảnh của chúng ta." John Kelleghan - công tố viên của bộ Điều tra an ninh nội địa thành phố Philadelphia - cho biết.
Nếu bị kết án, các bị cáo sẽ phải chịu mức án tối đa là 20 năm tù hay một khoản phạt 250 ngàn USD hoặc cả hai do phạm tội lừa đảo bằng điện tử và thư tín. Tội chủ mưu sẽ bị phạt thêm 5 năm tù sau phán quyết của tòa.
Hoàng Việt (theo Reuters)
